大塚電子株式会社
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第2731位 7件
（
2017年：第2921位 7件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第1989位 8件
（2017年：第3281位 4件）
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6411846 | シリンジを制御する制御装置を備えた分注システム | 2018年10月24日 | |
| 特許 6402272 | 厚み測定装置及び厚み測定方法 | 2018年10月10日 | |
| 特許 6402273 | 光学測定装置及び光学測定方法 | 2018年10月10日 | |
| 特許 6371926 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2018年 8月 8日 | |
| 特許 6363382 | 膜厚測定装置及び方法 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6363819 | 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 | 2018年 7月25日 | |
| 特許 6348258 | 分離分析方法 | 2018年 6月27日 | |
| 特許 6348349 | 動的光散乱測定装置及び動的光散乱測定方法 | 2018年 6月27日 | |
| 特許 6285597 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2018年 2月28日 |
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6411846 6402272 6402273 6371926 6363382 6363819 6348258 6348349 6285597
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