大塚電子株式会社
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第3248位 6件
（
2022年：第4725位 4件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1999位 9件
（2022年：第2778位 6件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7382629 | 光学測定装置および波長校正方法 | 2023年11月17日 | |
| 特許 7365955 | 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム | 2023年10月20日 | |
| 特許 7358204 | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 | 2023年10月10日 | |
| 特許 7341849 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2023年 9月11日 | |
| 特許 7288951 | 光線力学的療法条件パラメータの決定方法および光線力学的療法装置 | 2023年 6月 8日 | |
| 特許 7279937 | 光学測定方法および処理装置 | 2023年 5月23日 | |
| 特許 7219463 | 光学ユニット、光学測定装置および光学測定方法 | 2023年 2月 8日 | |
| 特許 7218424 | 光線力学治療装置及び光線力学治療装置用カートリッジ | 2023年 2月 6日 | |
| 特許 7199093 | 光学測定システムおよび光学測定方法 | 2023年 1月 5日 |
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7382629 7365955 7358204 7341849 7288951 7279937 7219463 7218424 7199093
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2月21日(金) - 東京 大田
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