大塚電子株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第1993位 11件
（
2013年：第2668位 8件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第2733位 7件
（
2013年：第1984位 11件）
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-194344 | テラヘルツ波を用いた測定方法 | 2014年10月 9日 | |
| 特開 2014-194345 | テラヘルツ波を用いた測定方法およびそれに用いられる容器 | 2014年10月 9日 | |
| 特開 2014-173866 | 測定装置、光伝導アンテナおよび光伝導アンテナの製造方法 | 2014年 9月22日 | |
| 特開 2014-157025 | 標準光源および測定方法 | 2014年 8月28日 | |
| 特開 2014-149194 | 測定装置および測定方法 | 2014年 8月21日 | |
| 特開 2014-115215 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 | 2014年 6月26日 | |
| 特開 2014-55780 | 膜厚測定方法及び膜厚測定装置 | 2014年 3月27日 | |
| 特開 2014-48232 | 分光特性測定装置および分光特性測定方法 | 2014年 3月17日 | |
| 特開 2014-41091 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 | 2014年 3月 6日 | |
| 特開 2014-20952 | 光学特性測定装置 | 2014年 2月 3日 | |
| 特開 2014-16194 | 光学特性測定システムおよび光学特性測定方法 | 2014年 1月30日 |
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2014-194344 2014-194345 2014-173866 2014-157025 2014-149194 2014-115215 2014-55780 2014-48232 2014-41091 2014-20952 2014-16194
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