大塚電子株式会社
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（
2020年：第2418位 6件）
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 再表 2020-174547 | 光線力学治療装置 | 2021年12月23日 | |
| 再表 2020-170330 | 光線力学的療法条件パラメータの決定方法および光線力学的療法装置 | 2021年12月16日 | |
| 特開 2021-171665 | 紫外線照射装置および紫外線照射方法 | 2021年11月 1日 | |
| 特開 2021-169938 | 光学測定システム、多層膜製造装置および光学測定方法 | 2021年10月28日 | |
| 特開 2021-169982 | ゼータ電位測定用治具 | 2021年10月28日 | |
| 特開 2021-165651 | 粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム | 2021年10月14日 | |
| 特開 2021-165701 | 光学測定システムおよび光学測定方法 | 2021年10月14日 | |
| 特開 2021-143964 | 光学測定方法、光学測定装置及び光学測定プログラム | 2021年 9月24日 | |
| 再表 2020-59100 | 測定装置、および測定方法 | 2021年 8月30日 | |
| 特開 2021-113799 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2021年 8月 5日 | |
| 特開 2021-81192 | 光学測定装置のリニアリティ補正方法、光学測定方法及び光学測定装置 | 2021年 5月27日 | |
| 特開 2021-76489 | 膜厚測定装置および膜厚測定方法 | 2021年 5月20日 | |
| 特開 2021-71339 | 光学測定方法および処理装置 | 2021年 5月 6日 | |
| 特開 2021-67557 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2021年 4月30日 | |
| 特開 2021-67611 | 光学測定装置、波長校正方法および標準試料 | 2021年 4月30日 |
15 件中 1-15 件を表示
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2020-174547 2020-170330 2021-171665 2021-169938 2021-169982 2021-165651 2021-165701 2021-143964 2020-59100 2021-113799 2021-81192 2021-76489 2021-71339 2021-67557 2021-67611
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