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大塚電子株式会社

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　■　2021年特許取得件数ランキング　　　第2480位　6件（2020年：第2418位　6件）

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大塚電子株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
再表 2020-174547	光線力学治療装置	2021年12月23日
再表 2020-170330	光線力学的療法条件パラメータの決定方法および光線力学的療法装置	2021年12月16日
特開 2021-171665	紫外線照射装置および紫外線照射方法	2021年11月 1日
特開 2021-169938	光学測定システム、多層膜製造装置および光学測定方法	2021年10月28日
特開 2021-169982	ゼータ電位測定用治具	2021年10月28日
特開 2021-165651	粒子径測定方法、粒子径測定装置及び粒子径測定プログラム	2021年10月14日
特開 2021-165701	光学測定システムおよび光学測定方法	2021年10月14日
特開 2021-143964	光学測定方法、光学測定装置及び光学測定プログラム	2021年 9月24日
再表 2020-59100	測定装置、および測定方法	2021年 8月30日
特開 2021-113799	光学測定装置および光学測定方法	2021年 8月 5日
特開 2021-81192	光学測定装置のリニアリティ補正方法、光学測定方法及び光学測定装置	2021年 5月27日
特開 2021-76489	膜厚測定装置および膜厚測定方法	2021年 5月20日
特開 2021-71339	光学測定方法および処理装置	2021年 5月 6日
特開 2021-67557	光学測定装置および光学測定方法	2021年 4月30日
特開 2021-67611	光学測定装置、波長校正方法および標準試料	2021年 4月30日

12 件中 1-15 件を表示

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2020-174547 2020-170330 2021-171665 2021-169938 2021-169982 2021-165651 2021-165701 2021-143964 2020-59100 2021-113799 2021-81192 2021-76489 2021-71339 2021-67557 2021-67611

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