大塚電子株式会社
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第3535位 5件
（
2014年：第1993位 11件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第3293位 4件
（2014年：第2733位 7件）
（ランキング更新日：2024年9月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2015-203626 | 膜厚測定装置及び方法 | 2015年11月16日 | |
| 特開 2015-161650 | 測定装置および測定方法 | 2015年 9月 7日 | |
| 特開 2015-114266 | 偏光解析装置 | 2015年 6月22日 | |
| 特開 2015-75452 | 形状測定装置及び形状測定方法 | 2015年 4月20日 | |
| 特開 2015-4565 | 分離分析方法 | 2015年 1月 8日 |
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2015-203626 2015-161650 2015-114266 2015-75452 2015-4565
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点（米国・欧州（EPC)・中国）～米国ならびに EPC （欧州特許条約）・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します～
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