大塚電子株式会社
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第2815位 7件
（
2018年：第2731位 7件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第2668位 5件
（2018年：第1989位 8件）
（ランキング更新日：2025年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2019-200184 | 厚み測定装置及び厚み測定方法 | 2019年11月21日 | |
| 特開 2019-200185 | 光学測定装置及び光学測定方法 | 2019年11月21日 | |
| 特開 2019-191420 | 共焦点光学系測定装置、および共焦点光学系測定装置の製造方法 | 2019年10月31日 | |
| 特開 2019-158892 | 光学特性測定システムの校正方法 | 2019年 9月19日 | |
| 特開 2019-105561 | 測定装置および、それに用いられるサンプルホルダ | 2019年 6月27日 | |
| 特開 2019-86368 | 光学特性測定方法および光学特性測定システム | 2019年 6月 6日 | |
| 特開 2019-15576 | 光学測定装置および光学測定方法 | 2019年 1月31日 |
7 件中 1-7 件を表示
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2019-200184 2019-200185 2019-191420 2019-158892 2019-105561 2019-86368 2019-15576
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