大塚電子株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第2668位 8件
（
2012年：第3467位 5件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1984位 11件
（2012年：第2665位 7件）
（ランキング更新日：2025年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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大塚電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-234934 | 光学特性測定装置及び光学特性測定方法 | 2013年11月21日 | |
| 特開 2013-217735 | 輝度測定装置及び方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-217651 | 配光特性測定装置および配光特性測定方法 | 2013年10月24日 | |
| 特開 2013-174548 | 測定装置および測定方法 | 2013年 9月 5日 | |
| 特開 2013-170974 | 光源支持装置およびそれを用いた光放射特性測定装置 | 2013年 9月 2日 | |
| 特開 2013-108902 | 超音波粒径測定器、および超音波粒径測定方法 | 2013年 6月 6日 | |
| 特開 2013-40813 | 光学特性測定装置および光学特性測定方法 | 2013年 2月28日 | |
| 特開 2013-32981 | 膜厚測定装置 | 2013年 2月14日 |
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2013-234934 2013-217735 2013-217651 2013-174548 2013-170974 2013-108902 2013-40813 2013-32981
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