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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「アイメック」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-256889 | 半導体基板内の埋込ボイドを検出するための方法 | アイメック | 2012年12月27日 |
| 特開 2012-256869 | シリコン・フォトニクスプラットフォーム上でのフォトニックデバイスの共集積化 | アイメック 他 | 2012年12月27日 |
| 特開 2012-257246 | 恒温制御されたＭＥＭＳ発振器デバイス | アイメック | 2012年12月27日 |
| 特表 2012-533200 | インターリーブ型パイプライン型バイナリーサーチＡ／Ｄ変換器 | アイメック 他 | 2012年12月20日 |
| 特開 2012-253356 | ブリスターを伴わずにシリコン表面をパッシベーションする方法 | アイメック 他 | 2012年12月20日 |
| 特表 2012-532470 | ＭＥＭＳ可変キャパシタの製造方法 | アイメック 他 | 2012年12月13日 |
| 特開 2012-248830 | ハイブリッドＭＯＳＦＥＴデバイスの製造方法およびそれにより得られるハイブリッドＭＯＳＦＥＴ | アイメック | 2012年12月13日 |
| 特開 2012-242387 | 一体型ＳＥＲＳ測定のための導波路一体型プラズモン共鳴装置 | アイメック 他 | 2012年12月10日 |
| 特表 2012-531159 | 拡張可能な複数のアンテナパスを用いたビーム形成を用いたＥＨＦ無線通信受信機 | アイメック | 2012年12月 6日 |
| 特表 2012-531058 | 生体適合性パッケージング | アイメック | 2012年12月 6日 |
| 特開 2012-234817 | プラズマプローブ及びプラズマ診断のための方法 | アイメック | 2012年11月29日 |
| 特表 2012-530362 | 金属／有機誘電体界面でのクラックの低減 | アイメック 他 | 2012年11月29日 |
| 特開 2012-223760 | 半導体基板の洗浄方法および洗浄装置 | アイメック 他 | 2012年11月15日 |
| 特開 2012-222354 | 半導体デバイスおよび方法 | アイメック | 2012年11月12日 |
| 特表 2012-528245 | 有機材料層を基板上に形成する方法 | アイメック 他 | 2012年11月12日 |
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2012-256889 2012-256869 2012-257246 2012-533200 2012-253356 2012-532470 2012-248830 2012-242387 2012-531159 2012-531058 2012-234817 2012-530362 2012-223760 2012-222354 2012-528245
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