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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6841669 | 観察装置及び観察方法 | 2021年 3月10日 | |
特許 6836486 | 位置検出センサ | 2021年 3月 3日 | |
特許 6837639 | イオン濃度分布測定装置 | 2021年 3月 3日 | |
特許 6837834 | 紫外光発生用ターゲット及びその製造方法、並びに電子線励起紫外光源 | 2021年 3月 3日 | |
特許 6839248 | 光検出器 | 2021年 3月 3日 | |
特許 6832283 | アミロイドβオリゴマーの検出方法、アミロイドβオリゴマー検出装置及びアミロイドβオリゴマー検出プログラム | 2021年 2月24日 | |
特許 6833371 | 光出力モニタ装置、光出力モニタ方法、保護キャップおよびアダプタ | 2021年 2月24日 | |
特許 6835920 | 光検出装置 | 2021年 2月24日 | |
特許 6831884 | 電子管ユニット及び電子管用ソケット | 2021年 2月17日 | |
特許 6827316 | 放射線位置検出方法、放射線位置検出器及びPET装置 | 2021年 2月10日 | |
特許 6827509 | ミラーデバイスの製造方法、及び、ミラーユニットの製造方法 | 2021年 2月10日 | |
特許 6827574 | X線撮像システムおよびX線撮像方法 | 2021年 2月10日 | |
特許 6827951 | 濃度測定方法 | 2021年 2月10日 | |
特許 6829576 | 電子線照射装置 | 2021年 2月10日 | |
特許 6824351 | 半導体試料の検査装置及び検査方法 | 2021年 2月 3日 |
199 件中 166-180 件を表示
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6841669 6836486 6837639 6837834 6839248 6832283 6833371 6835920 6831884 6827316 6827509 6827574 6827951 6829576 6824351
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
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11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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