ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2021年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2021年 出願公開件数ランキング 第181位 240件 (2020年:第205位 212件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第165位 183件 (2020年:第174位 167件)
(ランキング更新日:2024年11月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6962831 | イオン化方法及び試料支持体 | 2021年11月 5日 | |
特許 6962906 | 半導体光検出素子 | 2021年11月 5日 | |
特許 6963149 | X線発生装置 | 2021年11月 5日 | |
特許 6956700 | 放射線検出器 | 2021年11月 2日 | |
特許 6957185 | 加工対象物切断方法及び半導体チップ | 2021年11月 2日 | |
特許 6957187 | チップの製造方法、及び、シリコンチップ | 2021年11月 2日 | |
特許 6957252 | 切断加工方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6958827 | 光電陰極及び光電陰極の製造方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6959042 | 発光装置 | 2021年11月 2日 | |
特許 6953246 | 半導体ウエハの製造方法、半導体エネルギー線検出素子の製造方法、及び半導体ウエハ | 2021年10月27日 | |
特許 6953595 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6954775 | デバイス解析装置及びデバイス解析方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6954882 | シンチレータパネル及び放射線検出器 | 2021年10月27日 | |
特許 6955462 | 光学計測装置及び光学計測方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6951870 | 光計測装置 | 2021年10月20日 |
199 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6962831 6962906 6963149 6956700 6957185 6957187 6957252 6958827 6959042 6953246 6953595 6954775 6954882 6955462 6951870
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
11月13日(水) - 東京 港区
11月13日(水) - 福井 福井市
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月14日(木) - 東京 港区
11月14日(木) - 愛知 名古屋市
11月14日(木) - 東京 中央区
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) -
11月16日(土) - 東京 中央区
11月13日(水) - 東京 港区
11月18日(月) -
11月19日(火) -
11月19日(火) - 東京 港区
11月19日(火) - 大阪 大阪市
11月19日(火) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) - 愛知 名古屋市
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月18日(月) -
神奈川県横浜市港北区日吉本町1-4-5パレスMR201号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
大阪府大阪市北区西天満3丁目5-10 オフィスポート大阪801号 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 コンサルティング
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台6-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング