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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第181位 240件
(2020年:第205位 212件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第165位 183件
(2020年:第174位 167件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6962831 | イオン化方法及び試料支持体 | 2021年11月 5日 | |
特許 6962906 | 半導体光検出素子 | 2021年11月 5日 | |
特許 6963149 | X線発生装置 | 2021年11月 5日 | |
特許 6956700 | 放射線検出器 | 2021年11月 2日 | |
特許 6957185 | 加工対象物切断方法及び半導体チップ | 2021年11月 2日 | |
特許 6957187 | チップの製造方法、及び、シリコンチップ | 2021年11月 2日 | |
特許 6957252 | 切断加工方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6958827 | 光電陰極及び光電陰極の製造方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6959042 | 発光装置 | 2021年11月 2日 | |
特許 6953246 | 半導体ウエハの製造方法、半導体エネルギー線検出素子の製造方法、及び半導体ウエハ | 2021年10月27日 | |
特許 6953595 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6954775 | デバイス解析装置及びデバイス解析方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6954882 | シンチレータパネル及び放射線検出器 | 2021年10月27日 | |
特許 6955462 | 光学計測装置及び光学計測方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6951870 | 光計測装置 | 2021年10月20日 |
199 件中 31-45 件を表示
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6962831 6962906 6963149 6956700 6957185 6957187 6957252 6958827 6959042 6953246 6953595 6954775 6954882 6955462 6951870
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