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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第177位 207件 (2021年:第181位 240件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第165位 203件 (2021年:第165位 183件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2022-171303 | 半導体装置の製造方法 | 2022年11月11日 | |
特開 2022-166942 | 測定装置および測定方法 | 2022年11月 4日 | |
特開 2022-166454 | 面発光レーザ素子 | 2022年11月 2日 | |
特開 2022-165532 | 試料観察装置及び試料観察方法 | 2022年11月 1日 | |
特開 2022-166290 | 試料観察装置 | 2022年11月 1日 | |
特開 2022-163925 | 光補正係数予測方法、光補正係数予測装置、機械学習方法、機械学習の前処理方法、及び学習済みの学習モデル | 2022年10月27日 | |
特開 2022-163926 | 光補正係数予測方法、光補正係数予測装置、機械学習方法、機械学習の前処理方法、及び学習済みの学習モデル | 2022年10月27日 | |
特開 2022-161080 | 試料観察モジュール | 2022年10月21日 | |
特開 2022-161135 | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 | 2022年10月21日 | |
特開 2022-161985 | 三次元計測装置及び光源装置 | 2022年10月21日 | |
特開 2022-159618 | 光検出装置及び計測装置 | 2022年10月18日 | |
特開 2022-159648 | 画像処理装置、画像処理方法および断層画像取得システム | 2022年10月18日 | |
特開 2022-159650 | 断層画像推測装置および断層画像推測方法 | 2022年10月18日 | |
特開 2022-157028 | 対象物加工方法及び対象物加工システム | 2022年10月14日 | |
特開 2022-153810 | 光検出回路及び計測装置 | 2022年10月13日 |
217 件中 31-45 件を表示
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2022-171303 2022-166942 2022-166454 2022-165532 2022-166290 2022-163925 2022-163926 2022-161080 2022-161135 2022-161985 2022-159618 2022-159648 2022-159650 2022-157028 2022-153810
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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