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株式会社アドバンテスト

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7101814	１または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、１または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、バッファメモリを使用するコンピュータプログラム	2022年 7月15日
特許 7096702	製造装置、検査方法、製造方法およびプログラム	2022年 7月 6日
特許 7082013	微粒子測定システム、計測装置	2022年 6月 7日
特許 7082015	計測装置	2022年 6月 7日
特許 7082020	ポアチップケースおよび微粒子測定システム	2022年 6月 7日
特許 7076540	電気フィルタ構造	2022年 5月27日
特許 7061882	測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2022年 5月 2日
特許 7058579	ポアデバイスおよび微粒子測定システム	2022年 4月22日
特許 7058759	１または複数の被テストデバイスをテストするための自動試験装置、１または複数の被テストデバイスの自動試験のための方法、および、コマンドエラーを処理するためのコンピュータプログラム	2022年 4月22日
特許 7034428	温度測定装置、リアクター、酵素活性度の評価装置およびその評価方法	2022年 3月14日
特許 7034429	ポアデバイスおよび微粒子測定システム	2022年 3月14日
特許 7033656	変圧器装置、回路装置および変圧器装置を動作させる方法	2022年 3月10日
特許 7028547	化合物半導体装置の製造方法	2022年 3月 2日
特許 7007147	カロリメトリックセンサ、それを用いた検査装置	2022年 1月24日
特許 7007151	三次元積層造形装置および積層造形方法	2022年 1月24日

32 件中 16-30 件を表示

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7101814 7096702 7082013 7082015 7082020 7076540 7061882 7058579 7058759 7034428 7034429 7033656 7028547 7007147 7007151

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