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株式会社アドバンテスト
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第518位 54件
（
2024年：第694位 38件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第831位 25件
（
2024年：第720位 34件）
（ランキング更新日：2026年3月19日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7778251 | 周波数安定化回路、周波数安定化方法、および、光コム発生器 | 2025年12月 1日 | |
| 特許 7774977 | 測定装置および測定方法 | 2025年11月25日 | |
| 特許 7756869 | 積層デバイスの製造方法、および、積層デバイス | 2025年10月21日 | |
| 特許 7757057 | 試験装置 | 2025年10月21日 | |
| 特許 7742809 | 光ビーム径測定装置、方法、プログラム、記録媒体 | 2025年 9月22日 | |
| 特許 7736708 | １つのクロックドメインから別のクロックドメインにデータを伝達するための回路 | 2025年 9月 9日 | |
| 特許 7731728 | 測定装置、測定方法およびプログラム | 2025年 9月 1日 | |
| 特許 7712133 | 保護回路及びスイッチ制御装置 | 2025年 7月23日 | |
| 特許 7712138 | 装置 | 2025年 7月23日 | |
| 特許 7712473 | 多次元動的部品平均テストのためのシステム及び方法 | 2025年 7月23日 | |
| 特許 7706131 | 血液試料中のリポ蛋白質の分析方法および分析装置 | 2025年 7月11日 | |
| 特許 7705004 | 半導体装置 | 2025年 7月 9日 | |
| 特許 7698479 | 磁場測定器 | 2025年 6月25日 | |
| 特許 7698480 | 試験方法、試験装置およびプログラム | 2025年 6月25日 | |
| 特許 7690656 | 試験回路、試験装置、および試験方法 | 2025年 6月10日 |
26 件中 1-15 件を表示
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7778251 7774977 7756869 7757057 7742809 7736708 7731728 7712133 7712138 7712473 7706131 7705004 7698479 7698480 7690656
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