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株式会社アドバンテスト

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　■　2024年出願公開件数ランキング　　　第699位　34件（2023年：第549位　56件）

　■　2024年特許取得件数ランキング　　　第739位　29件（2023年：第478位　58件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7504068	歪み表示装置、方法、プログラムおよび記録媒体	2024年 6月21日
特許 7504283	１つ以上の被試験デバイスをテストするための自動試験装置、方法およびコンピュータプログラムであって、異なるテストアクティビティが被試験デバイスのリソースのサブセットを使用する、自動試験装置、方法およびコンピュータプログラム	2024年 6月21日
特許 7497437	複数の入力サンプルに基づいて複数の出力サンプルを提供するための信号処理装置、および複数の入力サンプルに基づいて複数の出力サンプルを提供するための方法	2024年 6月10日
特許 7492603	デジタルとアナログとの間で信号を変換するための回路	2024年 5月29日
特許 7470781	アンテナを備える被試験デバイスを試験するための試験装置、自動試験装置および方法	2024年 4月18日
特許 7465854	試験用キャリア	2024年 4月11日
特許 7457208	自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム	2024年 3月27日
特許 7453851	同軸端子、同軸コネクタ、配線板、及び、電子部品試験装置	2024年 3月21日
特許 7453852	同軸コネクタを備えた配線板及び電子部品試験装置、並びに、同軸コネクタ	2024年 3月21日
特許 7450446	半導体装置、半導体装置の製造方法、および試験装置	2024年 3月15日
特許 7450804	複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法	2024年 3月15日
特許 7428996	電磁石、及び磁場印加システム	2024年 2月 7日
特許 7428597	光超音波測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2024年 2月 6日
特許 7422970	光音響波測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2024年 1月29日
特許 7410708	電子部品試験装置、ソケット、及び、電子部品試験装置用の交換部品	2024年 1月10日

30 件中 16-30 件を表示

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7504068 7504283 7497437 7492603 7470781 7465854 7457208 7453851 7453852 7450446 7450804 7428996 7428597 7422970 7410708

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