特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社アドバンテスト

※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2026年出願公開件数ランキング　　　第725位　30件（2025年：第524位　55件）

　■　2026年特許取得件数ランキング　　　第1143位　14件（2025年：第844位　25件）

（ランキング更新日：2026年10月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2026-143325	発光ダイオードの同期された試験	2026年 9月 8日
特開 2026-134187	集積回路の検査中における熱予測および調整	2026年 8月20日
特開 2026-129654	インターポーザおよびシリコンブリッジの非接触試験	2026年 8月12日
特表 2026-525476	自動試験装置、試験機構、連動動作モードにおける個別のセンシングで試験するための方法、および配線された電源接続構造体を有するデバイス	2026年 7月30日
特表 2026-523654	湾曲したリッジを有するアンテナ装置	2026年 7月14日
特表 2026-522604	被試験デバイスと試験機構のアンテナとの間の最適化された距離を決定するための試験機構および方法	2026年 7月 8日
特開 2026-71108	デバイス保持プレート	2026年 4月28日
特開 2026-70315	サブテラヘルツ波出力装置	2026年 4月27日
特開 2026-65037	縮小ヘッダ信号情報試験システムおよび方法	2026年 4月14日
特開 2026-55495	電子デバイスおよび電子デバイスの製造方法	2026年 3月31日
特開 2026-54589	光コム光源および測定装置	2026年 3月30日
特表 2026-508183	被試験デバイスソケットおよび被試験デバイスを試験する方法	2026年 3月10日
特開 2026-32812	試験回路、試験装置、および試験方法	2026年 2月27日
特開 2026-32780	状態判定装置、方法、プログラム、記録媒体	2026年 2月27日
特開 2026-22210	増幅回路	2026年 2月12日

30 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2026-143325 2026-134187 2026-129654 2026-525476 2026-523654 2026-522604 2026-71108 2026-70315 2026-65037 2026-55495 2026-54589 2026-508183 2026-32812 2026-32780 2026-22210

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数