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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第7573位 2件
(2019年:第2345位 9件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第3265位 4件
(2019年:第23568位 0件)
(ランキング更新日:2025年4月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6799015 | 電荷をトラップするための層を含む半導体素子の製造方法 | 2020年12月 9日 | |
特許 6779987 | 単結晶ブロックを転写する方法 | 2020年11月 4日 | |
特許 6778201 | 基板の電気的特性を測定するための、方法、装置およびシステム | 2020年10月28日 | |
特許 6743138 | 多層半導体構造の層における厚さ変動を測定する方法 | 2020年 8月19日 |
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6799015 6779987 6778201 6743138
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4月9日(水) -
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4月10日(木) - 東京 港区赤坂3-9-1 紀陽ビル4階
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4月11日(金) -
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