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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第2110位 10件
(2015年:第1659位 14件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第1440位 14件
(2015年:第1060位 19件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6048998 | 電子部品検査装置 | 2016年12月21日 | |
特許 6049155 | ピックアップ装置及び電子部品搬送装置 | 2016年12月21日 | |
特許 5999795 | 処理ユニット及び電子部品搬送装置 | 2016年 9月28日 | |
特許 5999796 | 中継装置 | 2016年 9月28日 | |
特許 5999859 | 外観検査装置 | 2016年 9月28日 | |
特許 5988530 | 位置補正装置、及びこれを備えた電子部品搬送装置 | 2016年 9月 7日 | |
特許 5975541 | 突上げ装置の突上げステージ | 2016年 8月23日 | |
特許 5975556 | 移載装置 | 2016年 8月23日 | |
特許 5954757 | 外観検査装置 | 2016年 7月20日 | |
特許 5936215 | 収容ユニット及び電子部品搬送装置 | 2016年 6月22日 | |
特許 5916025 | 電気特性テスト装置 | 2016年 5月11日 | |
特許 5892669 | 分類装置 | 2016年 3月23日 | |
特許 5881087 | 半導体印字検査方法及びプログラム並びにその装置 | 2016年 3月 9日 | |
特許 5865470 | 電子部品搬送装置 | 2016年 2月17日 |
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6048998 6049155 5999795 5999796 5999859 5988530 5975541 5975556 5954757 5936215 5916025 5892669 5881087 5865470
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