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ルドルフ・テクノロジーズ，インコーポレーテッド
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第2178位 9件
（
2024年：第3095位 6件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第4386位 3件
（2024年：第4647位 3件）
（ランキング更新日：2026年1月6日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルドルフ・テクノロジーズ，インコーポレーテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2025-184873 | ハイミックス半導体製造における深層学習モデル | 2025年12月18日 | |
| 特表 2025-534391 | デバイス計測のための複合データ | 2025年10月15日 | |
| 特表 2025-524029 | 基板及び膜を特性評価するための装置 | 2025年 7月25日 | |
| 特表 2025-523487 | 物理モデリング及び機械学習を使用したハイブリッド計測のための複数の信号源 | 2025年 7月23日 | |
| 特表 2025-523488 | 関心対象の複雑な構造のための計測ソリューション | 2025年 7月23日 | |
| 特表 2025-518605 | 半導体基板ツールの性能管理 | 2025年 6月17日 | |
| 特表 2025-510972 | 多波長レーザ音響を使用して試料の特徴付けを実行するためのシステム及び方法 | 2025年 4月15日 | |
| 特表 2025-510973 | 試料の特性評価を実行するためのシステム及び方法 | 2025年 4月15日 | |
| 特開 2025-13339 | 光学計測デバイスのための焦点システム | 2025年 1月24日 |
9 件中 1-9 件を表示
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2025-184873 2025-534391 2025-524029 2025-523487 2025-523488 2025-518605 2025-510972 2025-510973 2025-13339
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