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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4703952 | ＩＣ試験装置 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4693097 | 波長導出装置および該装置を備えた波長計、波長導出方法、プログラムおよび記録媒体 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4691112 | 接点装置およびその製造方法 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4690586 | マスク、電子ビームの偏向量の校正方法、電子ビーム露光装置 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4691125 | メモリ試験装置 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4693130 | スペクトル分析器用の周波数変換器におけるイメージ打消 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4690887 | 電力増幅回路および試験装置 | 2011年 6月 1日 | |
| 特許 4684414 | 蒸着装置、蒸着方法、電子ビーム露光装置、偏向装置及び偏向装置の製造方法 | 2011年 5月18日 | |
| 特許 4685115 | 電子ビーム露光方法 | 2011年 5月18日 | |
| 特許 4685099 | 伝送線路駆動回路 | 2011年 5月18日 | |
| 特許 4676280 | 光生成装置および該装置を備えたテラヘルツ光生成装置 | 2011年 4月27日 | 共同出願 |
| 特許 4676279 | 光生成装置および該装置を備えたテラヘルツ光生成装置 | 2011年 4月27日 | 共同出願 |
| 特許 4679428 | 試験装置および試験方法 | 2011年 4月27日 | |
| 特許 4679244 | 測定用コンタクト端子、測定装置、プローブカードセット、およびウエハプローバ装置 | 2011年 4月27日 | |
| 特許 4678995 | 測定データ表示装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体 | 2011年 4月27日 |
211 件中 136-150 件を表示
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4703952 4693097 4691112 4690586 4691125 4693130 4690887 4684414 4685115 4685099 4676280 4676279 4679428 4679244 4678995
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