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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4934222 | 試験装置および試験方法 | 2012年 5月16日 | |
| 特許 4925705 | Ｄ／Ａ変換装置、Ｄ／Ａ変換方法、荷電粒子ビーム露光装置及び荷電粒子ビーム露光方法 | 2012年 5月 9日 | 共同出願 |
| 特許 4928496 | プッシャブロック | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4928470 | 電子部品ハンドリング装置、電子部品試験装置、及び電子部品の試験方法 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4928339 | 任意波形発生装置 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4928097 | タイミング発生器及び半導体試験装置 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4926075 | ＴＣＰハンドリング装置およびＴＣＰハンドリング装置における接続端子の位置合わせ方法 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4925895 | ループバックモジュールおよび試験装置 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4925630 | 試験装置および試験方法 | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4925996 | 減衰器および電子デバイス | 2012年 5月 9日 | |
| 特許 4922506 | 半導体メモリ試験装置 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922480 | 半導体デバイス試験装置 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4923051 | 試験装置、及び試験方法 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922985 | 修正値導出装置、方法、プログラム、記録媒体 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4918440 | 製造システム、製造方法、管理装置、管理方法、およびプログラム | 2012年 4月18日 | 共同出願 |
196 件中 136-150 件を表示
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4934222 4925705 4928496 4928470 4928339 4928097 4926075 4925895 4925630 4925996 4922506 4922480 4923051 4922985 4918440
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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2月22日(土) - 東京 板橋区
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