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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4678994 | メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置 | 2011年 4月27日 | |
| 特許 4678918 | プローブカード用コンタクトストラクチャの製造方法 | 2011年 4月27日 | |
| 特許 4674275 | 試験装置および試験方法 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4674274 | 試験装置、情報処理システムおよびデータ伝送方法 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4674273 | 試験装置および情報処理システム | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4674005 | 電源装置、及び試験装置 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4674002 | 位置検出装置、位置検出方法、電子部品搬送装置及び電子ビーム露光装置 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4673594 | 逆特性測定装置および歪み補償装置、方法、プログラム、記録媒体 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4673477 | 撮像素子駆動回路、撮像素子試験装置 | 2011年 4月20日 | |
| 特許 4669258 | タイミング発生器、及び試験装置 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4669089 | パターン発生器およびそれを用いたメモリの試験装置 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4669088 | 試験装置、試験方法およびプログラム | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4664535 | 半導体デバイス試験装置 | 2011年 4月 6日 | |
| 特許 4664513 | 広帯域光増幅器及び広帯域可変波長光源 | 2011年 4月 6日 | |
| 特許 4664492 | コネクタ、半導体部品取付装置 | 2011年 4月 6日 |
211 件中 151-165 件を表示
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4678994 4678918 4674275 4674274 4674273 4674005 4674002 4673594 4673477 4669258 4669089 4669088 4664535 4664513 4664492
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