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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4660794 | 信号生成装置、試験装置、及び回路デバイス | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4659129 | 試験装置および試験方法 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4659493 | 電源回路及び試験装置 | 2011年 3月30日 | |
| 特許 4657950 | 送風装置及び電子部品試験装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4657216 | 波形整形回路及びこの波形整形回路を備えた半導体試験装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4657053 | タイミング発生器及び半導体試験装置 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4656652 | 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 | 2011年 3月23日 | |
| 特許 4653869 | 遅延クロック生成装置及び半導体試験装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4651804 | 半導体試験装置 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4649251 | 試験装置 | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4647139 | コンタクトストラクチャ | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4649480 | 試験装置、クロック発生装置、及び電子デバイス | 2011年 3月 9日 | |
| 特許 4644128 | デジタルＱＰ検波装置、該装置を備えたスペクトラムアナライザ、およびデジタルＱＰ検波方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644124 | 試験装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644180 | 光可変遅延ユニットおよび光可変遅延装置 | 2011年 3月 2日 |
211 件中 166-180 件を表示
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4660794 4659129 4659493 4657950 4657216 4657053 4656652 4653869 4651804 4649251 4647139 4649480 4644128 4644124 4644180
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