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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4644128 | デジタルＱＰ検波装置、該装置を備えたスペクトラムアナライザ、およびデジタルＱＰ検波方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644124 | 試験装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644180 | 光可変遅延ユニットおよび光可変遅延装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4643951 | 剰余系の被変換数を２進数に変換する変換装置及び変換方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4642966 | 粒子線装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4643939 | 間引きフィルタ及び試験装置 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4644312 | 試験装置および試験方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4637400 | プローブコンタクトシステムの平面調整機構 | 2011年 2月23日 | |
| 特許 4635083 | 半導体部品取付装置及び試験装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634907 | 接続装置、接続システム、光導波路及び接続方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634563 | 電子ビーム露光装置及び焦点検出方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4635091 | 信号処理装置およびその装置を用いた半導体デバイス試験装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4630122 | 試験装置、及び試験方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630017 | 波形発生器及び試験装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4629112 | 電流制限付き電圧発生器および半導体試験装置 | 2011年 2月 9日 |
211 件中 181-195 件を表示
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4644128 4644124 4644180 4643951 4642966 4643939 4644312 4637400 4635083 4634907 4634563 4635091 4630122 4630017 4629112
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