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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4863585 | コンタクトストラクチャ並びにその製造方法及びそれを用いたプローブコンタクトアセンブリ | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4862096 | パターン測定装置及びパターン測定方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861717 | 試験装置、及び試験方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4861663 | 測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4859854 | 半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4859402 | 試験装置、及び製造方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4859353 | 増幅回路、及び試験装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4859269 | 半導体試験装置 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4864006 | 試験装置および試験方法 | 2012年 1月25日 | |
| 特許 4856007 | 波形発生装置、設定周期補正方法及び半導体試験装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4855597 | アンドフェイル検出回路及び半導体メモリ試験装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4856250 | Ｄ／Ａ変換器及び電子ビーム露光装置 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4856242 | ＡＤ変換器 | 2012年 1月18日 | |
| 特許 4850176 | 遅延回路、試験装置、タイミング発生器、テストモジュール、及び電子デバイス | 2012年 1月11日 | |
| 特許 4849996 | 遅延回路、試験装置、プログラム、半導体チップ、イニシャライズ方法、および、イニシャライズ回路 | 2012年 1月11日 |
196 件中 181-195 件を表示
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4863585 4862096 4861717 4861663 4859854 4859402 4859353 4859269 4864006 4856007 4855597 4856250 4856242 4850176 4849996
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2月14日(金) - 東京 大田
＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
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2月19日(水) -
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
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