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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4628096 | 半導体試験装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627924 | 半導体デバイス試験装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4627446 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630359 | 遅延クロック生成装置および遅延時間測定装置 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4630056 | 畳み込み演算回路 | 2011年 2月 9日 | |
| 特許 4618752 | 直交変調信号の信号解析装置 | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4617401 | 試験装置および試験方法 | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4619067 | 光モジュール用ソケット | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4621076 | 電子ビーム露光装置 | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4621050 | クロック乗替装置、及び試験装置 | 2011年 1月26日 | |
| 特許 4616434 | パターン発生器、パターン発生方法及び試験装置 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4616517 | 電子ビーム露光方法、電子ビーム露光装置、及び半導体素子製造方法 | 2011年 1月19日 | |
| 特許 4612150 | 半導体デバイス試験装置 | 2011年 1月12日 | |
| 特許 4608517 | モジュール式試験システム | 2011年 1月12日 | |
| 特許 4608516 | モジュール式試験システムに試験モジュールを統合する方法およびモジュール式試験システム | 2011年 1月12日 |
211 件中 196-210 件を表示
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4628096 4627924 4627446 4630359 4630056 4618752 4617401 4619067 4621076 4621050 4616434 4616517 4612150 4608517 4608516
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