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株式会社アドバンテスト
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第557位 58件
（
2013年：第338位 127件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第379位 97件
（2013年：第163位 256件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5580709 | 試験装置及び試験方法 | 2014年 8月27日 | |
| 特許 5576469 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576458 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5576332 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2014年 8月20日 | |
| 特許 5557836 | プローブ及びその製造方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559693 | 周波数特性測定装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559724 | 試験装置用の電源装置およびそれを用いた試験装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557547 | テストヘッド及びそれを備えた半導体ウェハ試験装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5547579 | 試験装置及び試験方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5547514 | 信号発生器およびそれを用いた試験装置 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5548159 | 欠陥レビュー装置及び欠陥レビュー方法 | 2014年 7月16日 | 共同出願 |
| 特許 5547566 | 貫通配線基板の製造方法 | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5542841 | 受光装置、受光装置の製造方法、および受光方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5529154 | 試験用キャリア | 2014年 6月25日 | |
| 特許 5529035 | 着脱装置、コンタクトアーム、及び電子部品ハンドリング装置 | 2014年 6月25日 |
97 件中 16-30 件を表示
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5580709 5576469 5576458 5576332 5557836 5559693 5559724 5557547 5547579 5547514 5548159 5547566 5542841 5529154 5529035
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