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株式会社アドバンテスト

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　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第557位　58件（2013年：第338位　127件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第379位　97件（2013年：第163位　256件）

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2014-235127	試験システム、制御プログラム、コンフィギュレーションデータの書込方法	2014年12月15日
特開 2014-215048	電源装置およびそれを用いた試験装置	2014年11月17日
特開 2014-211313	パターン検査方法及びパターン検査装置	2014年11月13日	共同出願
特開 2014-211314	欠陥検査装置及び欠陥検査方法	2014年11月13日	共同出願
特開 2014-204868	光音響波測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2014年10月30日
特開 2014-206474	光音響波測定器	2014年10月30日
特開 2014-206475	光音響波測定器、光音響波測定装置、方法、プログラム、記録媒体	2014年10月30日
特開 2014-202559	製造方法、プローブユニット、プローブ装置、および試験装置	2014年10月27日
特開 2014-202558	プローブユニット、プローブ装置、および試験装置	2014年10月27日
特開 2014-202557	プローブユニット、プローブ装置、および試験装置	2014年10月27日
特開 2014-185853	電流補償回路、半導体デバイス、タイミング発生器、試験装置	2014年10月 2日
特開 2014-149223	試験装置および試験方法	2014年 8月21日
特開 2014-134498	検出装置、ウエハおよび電子デバイス	2014年 7月24日	共同出願
特開 2014-130095	試験装置および試験方法	2014年 7月10日
特開 2014-131227	測定装置および電子デバイス	2014年 7月10日	共同出願

58 件中 1-15 件を表示

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2014-235127 2014-215048 2014-211313 2014-211314 2014-204868 2014-206474 2014-206475 2014-202559 2014-202558 2014-202557 2014-185853 2014-149223 2014-134498 2014-130095 2014-131227

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