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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4792267 | 表面状態測定方法及び装置 | 2011年10月12日 | 共同出願 |
| 特許 4789460 | 光スイッチ及び光試験装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4789125 | 電子部品試験用ソケットおよびこれを用いた電子部品試験装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792530 | レーザ光パルスの位相制御装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4790087 | 電子部品の温度制御装置 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792340 | 試験装置および試験方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4792541 | 試験装置および試験方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4786368 | マルチコラム用電子ビーム生成装置 | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4786767 | 繰り返し周波数制御装置 | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4780587 | 検証プログラム、検証装置及び検証方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782640 | 試験装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782271 | 半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782889 | 繰り返し周波数制御装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782502 | 周波数成分測定装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4776648 | 被測定ＬＳＩの位相差検出器 | 2011年 9月21日 |
211 件中 46-60 件を表示
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4792267 4789460 4789125 4792530 4790087 4792340 4792541 4786368 4786767 4780587 4782640 4782271 4782889 4782502 4776648
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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