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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
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（
2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5037850 | 電子ビーム露光装置 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5037826 | 解析装置および解析方法 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5038137 | 半導体試験装置 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5038323 | ジッタ印加装置、ジッタ印加方法、試験装置、及び通信チップ | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5037800 | 半導体デバイス | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5038256 | 試験モジュールおよび試験方法 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5038454 | 電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 | 2012年10月 3日 | |
| 特許 5028228 | 直流測定装置および制限回路 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5028524 | ループ型クロック調整回路および試験装置 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5028240 | 出力光パルス幅制御装置、方法、プログラムおよび記録媒体 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5028060 | パフォーマンスボードおよびカバー部材 | 2012年 9月19日 | |
| 特許 5025565 | 光信号ビットレート調整装置、光信号発生装置、光試験装置、光信号ビットレート調整方法およびプログラム、記録媒体 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5022262 | デバッグ中にツールを使用可能な試験システム及び方法 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5025524 | 試験装置および試験システムならびに試験方法 | 2012年 9月12日 | |
| 特許 5025224 | 試験装置、ドライバコンパレータチップ、応答測定装置および校正方法 | 2012年 9月12日 |
196 件中 46-60 件を表示
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5037850 5037826 5038137 5038323 5037800 5038256 5038454 5028228 5028524 5028240 5028060 5025565 5022262 5025524 5025224
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