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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4776648 | 被測定ＬＳＩの位相差検出器 | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4776659 | 被測定ＬＳＩのジッタアナライザ | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4776724 | 補正回路及び試験装置 | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4776598 | 管理方法、管理装置、及びデバイス製造方法 | 2011年 9月21日 | 共同出願 |
| 特許 4774546 | 測定装置、図形生成方法、プログラムおよび記録媒体 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772793 | 光受信装置、試験装置、光受信方法、試験方法、テストモジュール、及び半導体チップ | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772801 | 発振回路、試験装置、及び電子デバイス | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772382 | 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4772920 | 試験装置および送信装置 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4774543 | ジッタ推定装置及び推定方法 | 2011年 9月14日 | 共同出願 |
| 特許 4772792 | シンボル変調精度測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 | 2011年 9月14日 | |
| 特許 4766510 | 差動伝送システム | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4765100 | 位相測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4765105 | 変調器 | 2011年 9月 7日 | |
| 特許 4763003 | ヒータ付プッシャ、電子部品ハンドリング装置および電子部品の温度制御方法 | 2011年 8月31日 |
211 件中 61-75 件を表示
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4776648 4776659 4776724 4776598 4774546 4772793 4772801 4772382 4772920 4774543 4772792 4766510 4765100 4765105 4763003
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