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株式会社アドバンテスト

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株式会社アドバンテストの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特許 5022381	電子部品試験装置及び電子部品の試験方法	2012年 9月12日
特許 5022377	測定回路及び試験装置	2012年 9月12日
特許 5022375	トレイ搬送装置及びそれを備えた電子部品試験装置	2012年 9月12日
特許 5025224	試験装置、ドライバコンパレータチップ、応答測定装置および校正方法	2012年 9月12日
特許 5022359	ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法	2012年 9月12日
特許 5021924	パフォーマンスボード、試験装置及び試験方法	2012年 9月12日
特許 5025565	光信号ビットレート調整装置、光信号発生装置、光試験装置、光信号ビットレート調整方法およびプログラム、記録媒体	2012年 9月12日
特許 5022262	デバッグ中にツールを使用可能な試験システム及び方法	2012年 9月12日
特許 5013407	レーザ発振器	2012年 8月29日	共同出願
特許 5011282	スイッチ回路、フィルタ回路及び試験装置	2012年 8月29日
特許 5011417	伝達特性測定装置、伝達特性測定方法、および、電子デバイス	2012年 8月29日
特許 5013613	直交変調・復調装置、直交変調器および直交復調器	2012年 8月29日
特許 5011388	コンタクタ、プローブカード及びコンタクタの実装方法。	2012年 8月29日
特許 5008669	負荷変動補償回路、電子デバイス、試験装置、タイミング発生回路、及び負荷変動補償方法	2012年 8月22日
特許 5008661	キャリブレーション装置、キャリブレーション方法、試験装置、及び試験方法	2012年 8月22日

196 件中 61-75 件を表示

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5022381 5022377 5022375 5025224 5022359 5021924 5025565 5022262 5013407 5011282 5011417 5013613 5011388 5008669 5008661

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