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株式会社アドバンテスト
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第193位 230件
（
2011年：第199位 212件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第199位 196件
（
2011年：第170位 211件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5008654 | 測定装置、測定方法、試験装置、試験方法、及び電子デバイス | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5008673 | 試験装置および制御方法 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5008676 | プログラム、記録媒体、試験装置および診断方法 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 5008661 | キャリブレーション装置、キャリブレーション方法、試験装置、及び試験方法 | 2012年 8月22日 | |
| 特許 4999398 | 配線基板 | 2012年 8月15日 | |
| 特許 4999232 | アナログ・デジタル混成ＩＣ用テストシステム | 2012年 8月15日 | |
| 特許 4999885 | アナログ信号処理装置、方法、プログラム、記録媒体 | 2012年 8月15日 | |
| 特許 4995325 | クロック乗せ換え回路およびそれを用いた試験装置 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4994749 | 電子ビーム寸法測定装置及び電子ビーム寸法測定方法 | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4994842 | 被試験装置の近接制御温度管理機能を有すマイクロサーマルチャンバ | 2012年 8月 8日 | |
| 特許 4981918 | 試験装置及び試験方法 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4977013 | 電力印加回路、及び試験装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977217 | 半導体試験装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977056 | 試験装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4972453 | 電圧発生装置、電流発生装置および試験装置 | 2012年 7月11日 |
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5008654 5008673 5008676 5008661 4999398 4999232 4999885 4995325 4994749 4994842 4981918 4977013 4977217 4977056 4972453
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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