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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4722228 | 試験装置、試験方法およびシステム | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4722227 | 試験用ウエハユニットおよび試験システム | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4722226 | パターン発生器 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4722221 | 試験装置、同期モジュールおよび同期方法 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721919 | 補正方法および補正装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721906 | 試験装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721762 | 試験装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721707 | タイミング発生回路とこのタイミング発生回路を備えた半導体試験装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721565 | 半導体デバイス試験装置 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4721872 | 遅延ロックループ回路、タイミング発生器、半導体試験装置、半導体集積回路及び遅延量校正方法 | 2011年 7月13日 | |
| 特許 4714067 | キャリブレーション回路、キャリブレーション方法、及び試験装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713763 | プローブの位置ずれ検出方法・プローブの位置決定方法・プローブの位置ずれ検出装置・プローブの位置決定装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713773 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4714227 | 圧電駆動装置、圧電駆動制御方法及び電子デバイス | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713961 | パルス発生回路およびその製造方法 | 2011年 6月29日 |
211 件中 106-120 件を表示
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4722228 4722227 4722226 4722221 4721919 4721906 4721762 4721707 4721565 4721872 4714067 4713763 4713773 4714227 4713961
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