ホーム > 特許ランキング > 株式会社アドバンテスト > 2011年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社アドバンテスト)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
(2010年:第235位 206件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
(2010年:第155位 204件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4713763 | プローブの位置ずれ検出方法・プローブの位置決定方法・プローブの位置ずれ検出装置・プローブの位置決定装置 | 2011年 6月29日 | |
特許 4713773 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2011年 6月29日 | |
特許 4714227 | 圧電駆動装置、圧電駆動制御方法及び電子デバイス | 2011年 6月29日 | |
特許 4713961 | パルス発生回路およびその製造方法 | 2011年 6月29日 | |
特許 4713913 | 電源回路及び試験装置 | 2011年 6月29日 | |
特許 4707667 | バイモルフ素子、バイモルフスイッチ、ミラー素子及びこれらの製造方法 | 2011年 6月22日 | |
特許 4707608 | 測定回路及び試験装置 | 2011年 6月22日 | |
特許 4707557 | 試験装置、補正値管理方法、及びプログラム | 2011年 6月22日 | |
特許 4704514 | 試験装置 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704401 | ピン番号変換装置 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704278 | 試験装置および試験方法 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704211 | 試験装置、試験装置のプログラム、試験パターン記録媒体、及び試験装置の制御方法 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704184 | 試験装置及び試験方法 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704178 | 試験装置及び試験方法 | 2011年 6月15日 | |
特許 4704131 | 試験装置、及び試験方法 | 2011年 6月15日 |
211 件中 121-135 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4713763 4713773 4714227 4713961 4713913 4707667 4707608 4707557 4704514 4704401 4704278 4704211 4704184 4704178 4704131
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社アドバンテストの知財の動向チェックに便利です。
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区新橋6-20-4 新橋パインビル5階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング