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株式会社アドバンテスト
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第199位 212件
（
2010年：第235位 206件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第170位 211件
（
2010年：第155位 204件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4713763 | プローブの位置ずれ検出方法・プローブの位置決定方法・プローブの位置ずれ検出装置・プローブの位置決定装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713773 | 電子ビーム露光装置及び電子ビーム露光方法 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4714227 | 圧電駆動装置、圧電駆動制御方法及び電子デバイス | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713961 | パルス発生回路およびその製造方法 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713913 | 電源回路及び試験装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4707667 | バイモルフ素子、バイモルフスイッチ、ミラー素子及びこれらの製造方法 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4707608 | 測定回路及び試験装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4707557 | 試験装置、補正値管理方法、及びプログラム | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4704514 | 試験装置 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704401 | ピン番号変換装置 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704278 | 試験装置および試験方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704211 | 試験装置、試験装置のプログラム、試験パターン記録媒体、及び試験装置の制御方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704184 | 試験装置及び試験方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704178 | 試験装置及び試験方法 | 2011年 6月15日 | |
| 特許 4704131 | 試験装置、及び試験方法 | 2011年 6月15日 |
211 件中 121-135 件を表示
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4713763 4713773 4714227 4713961 4713913 4707667 4707608 4707557 4704514 4704401 4704278 4704211 4704184 4704178 4704131
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