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株式会社アドバンテスト
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第338位 127件
（
2012年：第193位 230件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第163位 256件
（
2012年：第199位 196件）
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株式会社アドバンテストの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5249357 | 電子デバイス、試験装置および試験方法 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5249330 | 信号出力回路、タイミング発生回路、試験装置、および受信回路 | 2013年 7月31日 | |
| 特許 5243545 | 試験装置、送信装置、受信装置、試験方法、送信方法、および受信方法 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5243340 | 試験装置および試験方法 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5243287 | ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5243037 | 電子部品試験装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5243257 | 測定装置、測定方法、プログラムおよび試験装置 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5235128 | 試験システム | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5235078 | 波形発生装置、波形生成装置、試験装置およびプログラム | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232918 | 電磁波測定装置、測定方法、プログラム、記録媒体 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232729 | 出力装置および試験装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232388 | 広帯域信号解析装置、広帯域周期ジッタ解析装置、広帯域スキュー解析装置、広帯域信号解析方法、及び試験装置システム | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5235204 | ビット並べ替え回路およびそれを用いた試験装置 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232511 | 基板加工方法 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5232378 | 可変容量素子、共振器および変調器 | 2013年 7月10日 |
256 件中 121-135 件を表示
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5249357 5249330 5243545 5243340 5243287 5243037 5243257 5235128 5235078 5232918 5232729 5232388 5235204 5232511 5232378
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