※ ログインすれば出願人(三星電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第64位 609件
(2013年:第61位 707件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第80位 474件
(2013年:第55位 679件)
(ランキング更新日:2025年2月18日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5629795 | MIMキャパシタを含む半導体集積回路素子およびその製造方法 | 2014年11月26日 | |
特許 5632210 | 非揮発性メモリ装置及びそのプログラム方法 | 2014年11月26日 | |
特許 5629183 | ビデオ符号化/復号化用の動き補償装置及びその方法 | 2014年11月19日 | |
特許 5627085 | レベルシフタを備える半導体装置、ディスプレイ装置及びその動作方法 | 2014年11月19日 | |
特許 5629537 | イメージセンサー、及びイメージ処理装置 | 2014年11月19日 | |
特許 5627377 | ネガティブレベルシフタ | 2014年11月19日 | |
特許 5622491 | 半導体素子及びその形成方法 | 2014年11月12日 | |
特許 5623064 | データストリームを利用した送受信システムのインターフェース方法 | 2014年11月12日 | |
特許 5623751 | 複合デバイスのコンテンツ再生方法及びその装置 | 2014年11月12日 | |
特許 5624752 | サブミラーを備える自動焦点装置及び撮像装置 | 2014年11月12日 | |
特許 5618462 | 書込まれたデータ値に基づいてデータを選択的に検証するデータ検証方法及び半導体メモリ装置 | 2014年11月 5日 | |
特許 5620752 | グラフェンとナノ構造体との複合構造体及びその製造方法 | 2014年11月 5日 | |
特許 5618655 | 発光素子及びその製造方法 | 2014年11月 5日 | |
特許 5618457 | 調節可能なインダクタンスフィルタ、フィルタを備えたテープ配線基板及びテープ配線基板を備えたディスプレイパネルアセンブリー | 2014年11月 5日 | |
特許 5616988 | バックライトユニット用の支持部材と、それを備えたバックライトユニットおよび映像表示装置 | 2014年10月29日 |
474 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5629795 5632210 5629183 5627085 5629537 5627377 5622491 5623064 5623751 5624752 5618462 5620752 5618655 5618457 5616988
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。三星電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月18日(火) -
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒106-6111 東京都港区六本木6丁目10番1号 六本木ヒルズ森タワー 11階 横浜駅前オフィス: 〒220-0004 神奈川県横浜市西区北幸1丁目11ー1 水信ビル 7階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒460-0008 愛知県名古屋市中区栄一丁目23番29号 伏見ポイントビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 鑑定 コンサルティング