※ ログインすれば出願人(三星電子株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第57位 657件
(2010年:第73位 608件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第31位 872件
(2010年:第31位 731件)
(ランキング更新日:2025年2月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4837689 | 基板構造とオリゴマープローブアレイおよびその製造方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4834566 | 入出力作業によってブロッキングされたスレッドを強制終了する装置および方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4834303 | スプリットゲート型フラッシュメモリ装置の製造方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4837634 | 3次元アドレスマッピングを用いたメモリアクセス方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4836521 | 表示装置 | 2011年12月14日 | |
特許 4837299 | スプリットゲート型の不揮発性の半導体メモリ素子の製造方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4838542 | 直交周波数分割多重接続システム及び周波数オフセット制御方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4837899 | メモリシステム及び方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4837884 | DRAMセル | 2011年12月14日 | |
特許 4837905 | イオン注入によりシリコンゲルマニウム層を選択的にパターニングする方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4836657 | A/Vネットワーク上に存在するA/V装置についての区別情報を生成する装置、システム及び方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4836435 | 半導体メモリ装置およびこの装置のテストパターンデータ発生方法 | 2011年12月14日 | |
特許 4832713 | 光ディスク記録装置および光ディスク記録装置におけるライトストラテジの調整方法 | 2011年12月 7日 | |
特許 4832798 | 記録媒体に保存されたデータを削除する方法、装置及びその方法が記録された記録媒体、削除されたデータを復元する方法、装置及びその方法が記録された記録媒体 | 2011年12月 7日 | |
特許 4833593 | 基板を乾燥させる装置及びその方法 | 2011年12月 7日 |
872 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4837689 4834566 4834303 4837634 4836521 4837299 4838542 4837899 4837884 4837905 4836657 4836435 4832713 4832798 4833593
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。三星電子株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月19日(水) -
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月18日(火) -
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールS 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒543-0014 大阪市天王寺区玉造元町2番32-1301 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都板橋区東新町1-50-1 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許