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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第332位 116件
(2013年:第354位 119件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第299位 130件
(2013年:第236位 170件)
(ランキング更新日:2025年2月17日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2014-238400 | 露光制御が強化された構造化照明投影 | 2014年12月18日 | |
特開 2014-238394 | 試料表面の干渉信号を生成する干渉計システム及び方法 | 2014年12月18日 | |
特開 2014-238342 | エンコーダ | 2014年12月18日 | |
特開 2014-237191 | 放電加工方法 | 2014年12月18日 | |
特開 2014-235008 | 測定器 | 2014年12月15日 | |
特開 2014-232065 | 測定器 | 2014年12月11日 | |
特開 2014-228299 | 光学式測定装置 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-228451 | 追尾式レーザ干渉計 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-228527 | 画像測定装置 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-228529 | 形状測定装置 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-228528 | 形状測定装置 | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-228626 | 光源ユニット | 2014年12月 8日 | |
特開 2014-224727 | 防塵部材及び測定器 | 2014年12月 4日 | 共同出願 |
特開 2014-224549 | 回転伝達装置 | 2014年12月 4日 | |
特開 2014-224745 | 原点信号発生装置及び原点信号発生システム | 2014年12月 4日 |
116 件中 1-15 件を表示
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2014-238400 2014-238394 2014-238342 2014-237191 2014-235008 2014-232065 2014-228299 2014-228451 2014-228527 2014-228529 2014-228528 2014-228626 2014-224727 2014-224549 2014-224745
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月19日(水) -
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
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(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
2月25日(火) -
2月25日(火) -
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2月26日(水) -
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2月25日(火) -
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