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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
(2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
(2011年:第270位 130件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-27183 | オートフォーカス装置 | 2012年 2月 9日 | |
特開 2012-18162 | 高輝度点光源用の蛍光体ホイール構成 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-18117 | 形状測定装置 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-18046 | 産業機械および産業機械の制御方法 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-18008 | 産業機械および産業機械の制御方法 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-18005 | スタイラス摩耗検出方法および表面性状測定機 | 2012年 1月26日 | |
特開 2012-13427 | 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の制御方法 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-13426 | 形状測定装置 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-13820 | オートフォーカス装置 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-14057 | 照明装置およびこれを用いた画像測定機 | 2012年 1月19日 | |
特開 2012-6116 | 短絡検出装置及び加工機械 | 2012年 1月12日 | |
特開 2012-8431 | オートフォーカス装置 | 2012年 1月12日 | |
特開 2012-2722 | 押込み試験機 | 2012年 1月 5日 | |
特開 2012-2631 | 光干渉測定装置および形状測定装置 | 2012年 1月 5日 | |
特開 2012-2565 | 変位測定器 | 2012年 1月 5日 |
109 件中 91-105 件を表示
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2012-27183 2012-18162 2012-18117 2012-18046 2012-18008 2012-18005 2012-13427 2012-13426 2012-13820 2012-14057 2012-6116 2012-8431 2012-2722 2012-2631 2012-2565
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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