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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第380位 109件
(2011年:第276位 147件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第266位 139件
(2011年:第270位 130件)
(ランキング更新日:2025年6月6日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-2664 | 画像機器の校正用パターン | 2012年 1月 5日 | |
特開 2012-2631 | 光干渉測定装置および形状測定装置 | 2012年 1月 5日 | |
特開 2012-2565 | 変位測定器 | 2012年 1月 5日 | |
特開 2012-4426 | 無変調安定化レーザ装置 | 2012年 1月 5日 |
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2012-2664 2012-2631 2012-2565 2012-4426
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