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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第332位 116件 (2013年:第354位 119件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第299位 130件 (2013年:第236位 170件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5601910 | 防熱カバー及びマイクロメータ | 2014年10月 8日 | |
特許 5601876 | セパレート型エンコーダ、及び、その取付方法 | 2014年10月 8日 | |
特許 5600045 | 三次元測定機の校正方法 | 2014年10月 1日 | |
特許 5600031 | 斜入射干渉計 | 2014年10月 1日 | |
特許 5592763 | 物体表面の高さマップを求める方法及びその装置 | 2014年 9月17日 | |
特許 5584873 | 画像測定装置 | 2014年 9月10日 | |
特許 5586440 | 高輝度パルス光源構成 | 2014年 9月10日 | |
特許 5584099 | 物体表面の形状測定装置、その形状測定方法及び部品キット | 2014年 9月 3日 | |
特許 5577508 | 画像測定装置及びその駆動制御方法 | 2014年 8月27日 | |
特許 5581178 | 位置感知光検出器を使用する線形変位センサ | 2014年 8月27日 | |
特許 5576195 | オートフォーカス装置 | 2014年 8月20日 | |
特許 5570879 | オートフォーカス機構及びこれを備えた光学式処理装置 | 2014年 8月13日 | |
特許 5571007 | 球体形状測定装置 | 2014年 8月13日 | |
特許 5570905 | 周波数安定化レーザー光源、および、波長校正方法 | 2014年 8月13日 | |
特許 5570963 | 光学式測定装置 | 2014年 8月13日 |
130 件中 16-30 件を表示
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5601910 5601876 5600045 5600031 5592763 5584873 5586440 5584099 5577508 5581178 5576195 5570879 5571007 5570905 5570963
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11月25日(月) -
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
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12月1日(日) -
11月25日(月) -