株式会社ミツトヨ
※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第354位 119件
（
2012年：第380位 109件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第236位 170件
（2012年：第266位 139件）
（ランキング更新日：2026年1月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年
株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5378940 | 表面性状測定機および表面性状測定方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378977 | 空気軸受、及び産業機械 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5374392 | 光ファイバ型振動計 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5371532 | 三次元測定機 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368337 | 撮像用パターン | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372599 | 焦点センサ | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373319 | 画像測定機 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5364519 | 追尾式レーザ干渉測長計 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5361334 | 産業機械 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5361268 | 斜入射干渉計 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5361230 | ２波長レーザ干渉計評価校正方法、評価校正装置および評価校正システム | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5350171 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351068 | 三次元測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5350169 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352796 | 整流平滑回路及びこれを使用した変位検出装置 | 2013年11月27日 |
170 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5378940 5378977 5374392 5371532 5368337 5372599 5373319 5364519 5361334 5361268 5361230 5350171 5351068 5350169 5352796
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月2日(月) - オンライン
2月2日(月) - オンライン
2月3日(火) - オンライン
2月4日(水) - オンライン
2月4日(水) - オンライン
2月5日(木) - オンライン
2月5日(木) - オンライン
2月6日(金) - 東京 品川区
2月6日(金) - 神奈川 横浜市
2月6日(金) - オンライン
2月6日(金) - オンライン
2月6日(金) - オンライン
2月2日(月) - オンライン
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒152-0034 東京都目黒区緑が丘一丁目16番7号 意匠 商標 外国商標 訴訟 コンサルティング
大阪府大阪市中央区北浜３丁目５－１９ 淀屋橋ホワイトビル２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都板橋区東新町１－５０－１ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許
