株式会社ミツトヨ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第354位 119件
（
2012年：第380位 109件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第236位 170件
（2012年：第266位 139件）
（ランキング更新日：2025年3月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5378940 | 表面性状測定機および表面性状測定方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5378977 | 空気軸受、及び産業機械 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5374392 | 光ファイバ型振動計 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5371532 | 三次元測定機 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5368337 | 撮像用パターン | 2013年12月18日 | |
| 特許 5372599 | 焦点センサ | 2013年12月18日 | |
| 特許 5373319 | 画像測定機 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5364519 | 追尾式レーザ干渉測長計 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5361334 | 産業機械 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5361268 | 斜入射干渉計 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5361230 | ２波長レーザ干渉計評価校正方法、評価校正装置および評価校正システム | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5350171 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5351068 | 三次元測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5350169 | オフセット量校正方法および表面性状測定機 | 2013年11月27日 | |
| 特許 5352796 | 整流平滑回路及びこれを使用した変位検出装置 | 2013年11月27日 |
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5378940 5378977 5374392 5371532 5368337 5372599 5373319 5364519 5361334 5361268 5361230 5350171 5351068 5350169 5352796
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