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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第330位 117件 (2017年:第318位 138件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第303位 96件 (2017年:第236位 133件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6442210 | 画像測定装置及び画像測定装置のガイダンス表示方法 | 2018年12月19日 | |
特許 6437802 | 光学式エンコーダ | 2018年12月12日 | |
特許 6438262 | マシンビジョン検査システムにおいてTAF(トラッキングオートフォーカス)センサを制御するシステム及び方法 | 2018年12月12日 | |
特許 6433688 | 露光制御が強化された構造化照明投影 | 2018年12月 5日 | |
特許 6434230 | 地震観測システム及び地震計 | 2018年12月 5日 | |
特許 6425875 | 光電式測定器用スケール、エンコーダ及びスケールの形成方法 | 2018年11月21日 | |
特許 6427332 | 画像測定機 | 2018年11月21日 | |
特許 6422311 | 投影アーティファクト抑制要素を含む構造化照明顕微鏡法光学装置 | 2018年11月14日 | |
特許 6418780 | マシンビジョン検査システムにおけるステップ・アンド・リピート動作命令編集のためのシステム、GUIおよび方法 | 2018年11月 7日 | |
特許 6418803 | センサ信号検知回路 | 2018年11月 7日 | |
特許 6419261 | 座標測定装置を動作させる方法 | 2018年11月 7日 | |
特許 6420537 | 多関節型三次元測定装置 | 2018年11月 7日 | |
特許 6420599 | 位置計測装置 | 2018年11月 7日 | |
特許 6420600 | 光学観察装置及び光学観察方法 | 2018年11月 7日 | |
特許 6415117 | 温度補正機能付測定機 | 2018年10月31日 |
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6442210 6437802 6438262 6433688 6434230 6425875 6427332 6422311 6418780 6418803 6419261 6420537 6420599 6420600 6415117
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11月22日(金) -
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11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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