株式会社ミツトヨ
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第245位 178件
（
2018年：第330位 117件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第241位 114件
（2018年：第303位 96件）
（ランキング更新日：2025年2月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6622475 | 測定データ収集装置及びプログラム | 2019年12月18日 | |
| 特許 6622646 | 透明体の欠陥検出方法及び装置 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6618322 | 計測システム用の３次元ワークスキャンパスをプログラミングする方法 | 2019年12月11日 | |
| 特許 6615561 | 硬さ試験機 | 2019年12月 4日 | |
| 特許 6611168 | プローブ測定力調整装置 | 2019年11月27日 | |
| 特許 6613162 | 三次元座標測定機用プローブヘッド及び接触検出方法 | 2019年11月27日 | |
| 特許 6608249 | 光ピックアップ装置 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6608579 | 測定器 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6608729 | 表面性状測定機及び表面性状測定方法 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609097 | 光共振器 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6609411 | 変位測定装置および変位測定方法 | 2019年11月20日 | |
| 特許 6604769 | テスト表面の高精度高さマップを測定する方法 | 2019年11月13日 | |
| 特許 6605857 | 測定装置 | 2019年11月13日 | |
| 特許 6602566 | 変化する切欠きに対して繰り返して配置されたプレートを有するアブソリュート型エンコーダスケール | 2019年11月 6日 | |
| 特許 6599094 | 光学装置 | 2019年10月30日 |
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6622475 6622646 6618322 6615561 6611168 6613162 6608249 6608579 6608729 6609097 6609411 6604769 6605857 6602566 6599094
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
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