株式会社ミツトヨ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第332位 116件
（
2013年：第354位 119件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第299位 130件
（
2013年：第236位 170件）
（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5570879 | オートフォーカス機構及びこれを備えた光学式処理装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5562202 | 光電式エンコーダ | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5563366 | 測長スケール、光学式変位検出装置、及び測長スケールの製造方法 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5559617 | 押込み試験機 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5559587 | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5554681 | 物体表面の高さマップを求める方法及びその装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557601 | レーザ光源の調整システム | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557602 | 情報処理方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5557620 | 形状測定装置 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5553667 | 光学式基準位置検出型エンコーダ | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5553669 | 光学式絶対位置測長型エンコーダ | 2014年 7月16日 | |
| 特許 5545987 | 光干渉測定装置および形状測定装置 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5546966 | 押込み試験システム | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5543765 | フィゾー型干渉計、及びフィゾー型干渉計の測定方法 | 2014年 7月 9日 | |
| 特許 5545691 | 形状測定方法及び形状測定装置 | 2014年 7月 9日 |
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5570879 5562202 5563366 5559617 5559587 5554681 5557601 5557602 5557620 5553667 5553669 5545987 5546966 5543765 5545691
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