株式会社ミツトヨ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第276位 147件
（
2010年：第319位 142件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第270位 130件
（2010年：第330位 94件）
（ランキング更新日：2024年11月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4669639 | 移動装置 | 2011年 4月13日 | |
| 特許 4653909 | 動電型検出器 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4652745 | 光学的変位測定器 | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4652252 | 画像測定システム、画像測定方法及び画像測定プログラム | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4652011 | 三次元座標測定システム及びそれに用いるパートプログラム | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4652717 | 画像処理装置及び方法並びにプログラム | 2011年 3月16日 | |
| 特許 4641555 | ねじ穴形状測定方法 | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4641441 | 画像検査方法および画像検査システム | 2011年 3月 2日 | |
| 特許 4639135 | プローブ観察装置、表面性状測定装置 | 2011年 2月23日 | |
| 特許 4638077 | 走査型広域被検面形状解析装置 | 2011年 2月23日 | |
| 特許 4634884 | 表面性状測定装置 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634868 | 画像測定方法及びシステム | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634867 | 画像測定システム及び方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4634657 | 表面性状測定装置の校正方法 | 2011年 2月16日 | |
| 特許 4627666 | 光電式エンコーダ | 2011年 2月 9日 |
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4669639 4653909 4652745 4652252 4652011 4652717 4641555 4641441 4639135 4638077 4634884 4634868 4634867 4634657 4627666
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