株式会社ミツトヨ
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第332位 116件
（
2013年：第354位 119件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第299位 130件
（
2013年：第236位 170件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5433848 | 画像測定装置 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5433846 | レーザ干渉測長装置及びレーザ干渉測長方法 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5432739 | 電子回路基板、及び光学式エンコーダ | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5432680 | 斜入射干渉計 | 2014年 3月 5日 | |
| 特許 5430278 | 光電式エンコーダ | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5427018 | 高速近似焦点用システムおよび方法 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5426486 | 変位測定器 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5426468 | テストインジケータ | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5426464 | 変位測定器 | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5426459 | マイクロメータ | 2014年 2月26日 | |
| 特許 5417222 | 真円度測定機の公差検出方法及び装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5416031 | データ収集装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5416030 | データ収集装置 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5415974 | 基準器、及び座標測定機 | 2014年 2月12日 | |
| 特許 5411738 | 硬さ試験機及びプログラム | 2014年 2月12日 |
130 件中 106-120 件を表示
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5433848 5433846 5432739 5432680 5430278 5427018 5426486 5426468 5426464 5426459 5417222 5416031 5416030 5415974 5411738
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