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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第545位 70件
(2012年:第528位 66件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
(2012年:第557位 60件)
(ランキング更新日:2025年5月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-195316 | 車両固定装置及び車両性能試験装置 | 2013年 9月30日 | 共同出願 |
特開 2013-191576 | 電子顕微鏡装置 | 2013年 9月26日 | |
特開 2013-167589 | 粒径分布測定装置 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-167588 | 粒子分析装置 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-167492 | 排ガスサンプリング装置 | 2013年 8月29日 | |
特開 2013-160594 | 元素分析装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-160614 | X線検出装置 | 2013年 8月19日 | |
特開 2013-145887 | 材料ガス濃度制御装置 | 2013年 7月25日 | 共同出願 |
特開 2013-140023 | 放射線測定装置及び放射線測定システム | 2013年 7月18日 | |
特開 2013-137215 | 液膜型イオン選択性電極 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137216 | 校正液 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137219 | 排ガス分析装置及びドレンセパレータ | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-137218 | イオン分析装置 | 2013年 7月11日 | |
特開 2013-134232 | ガス分析装置 | 2013年 7月 8日 | |
特開 2013-134229 | ガス分析装置 | 2013年 7月 8日 |
70 件中 31-45 件を表示
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2013-195316 2013-191576 2013-167589 2013-167588 2013-167492 2013-160594 2013-160614 2013-145887 2013-140023 2013-137215 2013-137216 2013-137219 2013-137218 2013-134232 2013-134229
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5月28日(水) - 東京 港区
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5月28日(水) -
5月28日(水) -
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5月29日(木) - 東京 新宿区
5月29日(木) -
5月29日(木) -
5月30日(金) -
5月30日(金) -
5月28日(水) - 東京 港区
6月4日(水) -
6月4日(水) -
6月4日(水) -
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