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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第545位 70件
(
2012年:第528位 66件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第591位 57件
(
2012年:第557位 60件)
(ランキング更新日:2025年12月12日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5366589 | 試料容器及びグロー放電分析装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5363245 | 試料体を形成するための形成治具及び形成方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5363295 | ゼータ電位測定セル及びゼータ電位測定装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5366536 | ラマン散乱光測定装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5356336 | 参照電極 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5356804 | ラマン散乱光測定装置 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5358426 | 精製油劣化度測定装置及び精製油劣化度測定方法 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5356337 | 参照電極 | 2013年12月 4日 | |
| 特許 5349394 | ガラス電極 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5335288 | ガラス電極及びその応答ガラス | 2013年11月 6日 | |
| 特許 5325522 | 複合型観察装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5324145 | 化合物分析装置及び化合物分析装置用プログラム | 2013年10月23日 | 共同出願 |
| 特許 5318621 | 低温液化ガスの注入器具 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5306186 | 荷電粒子線用静電レンズ | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5303781 | 電子顕微鏡装置 | 2013年10月 2日 |
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5366589 5363245 5363295 5366536 5356336 5356804 5358426 5356337 5349394 5335288 5325522 5324145 5318621 5306186 5303781
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12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) - 神奈川 川崎市
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